具有高频功能的客制化弹簧探针塔
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中探针研发设计并制造测试治具
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我们的IC测试探针可适用0.12mm的极小间距
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我们ICT测试探针可用于各式PCB测试，除标准化产品以外，我们也提供客制化设计
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我们研发设计独特专属的晶圆级测试方案
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客制化的老化测试治具，可承受高达180°C的温度
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中探针研发出专利高频测试方案，使用了同轴探针设计及加压导电橡胶治具
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CCP提供了各种不同的高电流电池测试探针
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针对RAM、闪存或其他内存芯片的标准化和客製化测试解决方案
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我们的专利探针设计可以乘载高达5A的极高电流
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中探针的陶瓷/铝制治具使用寿命可长达30,000个循环
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我们为低电阻测试提供了不同的尖端类型
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中探针专门提供特殊探针及测试模组。
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