东莞中探探针有限公司

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高频 (射频) 测试方案

中探针研发出专利高频测试方案,使用了同轴探针设计及加压导电橡胶治具

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产品介绍

高频测试主要用于无线电频道和宽带交易应用。信号引脚可以根据客户的电气特性和测试环境进行定制。对于IC测试,我们通常建议使用超短引脚、同轴探针和PCRs以适应不同类型的IC。


设计理念


性能模拟


CCP利用HFSS模拟治具中引脚的性能。这使我们能够在设计定制治具之前选择最佳引脚。

性能模拟

我们有能力模拟三维电磁性能,以及S参数、电感和阻抗,从而改善SI特性。

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CCP拥有一个专门的高频实验室,使用TDR、网络分析仪和RF探针站来测量治具/引脚的实际性能,从而验证模拟结果。

这些都是开发新高级产品所必需的不可或缺的设备。

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管脚定义


性能模拟

信号探头

性能模拟

接地探头

性能模拟


应用

特点高速 / 高频
DUT蓝牙 / 全球定位系统 / LTE / 无线IC / 5G
PackagingBGA / CSP / QFN / QFP


规格

插入损耗-1dB@>50GHz
回波损耗-20dB@>30GHz
阻抗50Ω
针脚间距0.65 至 1.00 mm

产品参数

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咨询电话(Tel) 邮箱:ccp_service@pccp.com.tw
地址:广东省东莞市虎门镇虎门南面路10号

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