老化测试将测试中的设备处于严苛的条件下：150°C；相对湿度（RH）：85％；电流额定值：连续1A长达1000小时。为了能够承受这样的条件，C.C.P.修改了镀层材料和核心材料。 C.C.P.将治具分为两部分：标准部分和客制部分。标准部分通过射出成型制造，并埋入客制部分，客制部分根据客户的IC设计进行定制，并由CNC制造。老化测试解决方案的探针使用特殊材料（WJ3），具有卓越的硬度，能够应对老化测试所带来的苛刻条件。
Pogo式老化插座
标准部分
定制零件
CCP将插座分为标准部分和客制部分。标准部分采用射出成型加工，而客制部分则根据IC尺寸通过CNC制造，以缩短开发时间和降低模具成本。CCP可以灵活满足所有客户需求。
| 集成电路尺寸 | <15×15mm2 |
| 最小间距 | 0.3 |
| Body 材质 | PES（黑色） |
| Housing 材质 | Ultem2300 |
| 工作温度 | -50℃~180℃ |
电镀/原材料
常用于老化测试解决方案中，WJ3是CCP开发的一种特殊镀层材料，通常镀在器件测试端子的活塞上。除了具有高硬度外，WJ3能够在严酷的测试环境下稳定运行，可持续达1000小时，甚至可能达到3000小时。
